Mettler-Toledo Global
欢迎访问梅特勒-托利多中国网站
搜索
--搜索类别--
产品介绍
行业应用
疑难解答
下载服务
最新新闻
广纳贤士
您当前的位置:
首页
> 产品分类 >
实验室仪器
>
电子天平及比较器
>
分析天平
>
XP超越系列至尊型分析天平
XP205
技术指标
最大称量值
220g
可读性
0.01mg
重复性:正常加载(sd)
0.03mg(200g)
重复性:微量加载
0.015mg(10g)
线性
0.1mg
灵敏度漂移
2x10
-6
灵敏度温度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)
76×73
耗材与选件